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材料中缺陷氧空位的常用表徵方法(二)

2022-08-08由 泛銳e測試 發表于 農業

如何表徵晶體結構

材料中缺陷氧空位的常用表徵方法(二)

一、X射線光電子能譜(XPS)

缺陷會導致材料結構中配位數低的原子,為氧物種化學吸附提供配位的不飽和位點。

X射線光電子能譜(XPS)是最廣泛使用的表面分析方法之一,可以提供材料表面的化學狀態和有價值的定量資訊。應用於大多數的固體材料。它可以從表面獲得約10 nm深度的資訊。材料中的缺陷會改變鍵合能量,這可以從移位的峰或新出現的峰中觀察到。因此,XPS可以作為一種有效的方法來檢測材料中的氧空位與缺陷位點。

經查閱文獻可知,透過低頻超聲波製備含有氧空位的BiOI,並發現富含缺陷的BiOI(R-BiOI)奈米片表現出優異的光催化效能。富有缺陷的BiOI的O 1s XPS光譜證實了氧空位的存在,如圖5所示。529。5 eV的峰可以說是晶格氧,而531。5 eV的峰則是由氧空位的化學吸附產生的。這也表明,氧空位被吸附的氧物種所穩定,這是富缺陷氧化物的一個典型特徵。這種現象也可以在其他缺陷金屬氧化物(O 1s XPS)中看到,如W

18

O

49

、CeO

2-X

、TiO

2-X

和缺陷的ZnO。

材料中缺陷氧空位的常用表徵方法(二)

圖1。 高解析度的O 1s XPS光譜

缺陷會導致材料結構中配位數低的原子,為氧物種化學吸附提供配位的不飽和位點。

拉曼光譜是研究分子結構的一種分析工具,可以得到分子振動和旋轉的資訊。不同的化學鍵有不同的振動模式,決定了它們之間能量水平的變化。分子振動水平的變化引起了拉曼位移。因此,拉曼位移與晶格振動模式有一定的相關性,它可以被用來研究材料的結構特徵。材料中的缺陷,特別是金屬氧化物會影響振動模式,導致拉曼位移或出現新的峰值。

研究表明,拉曼光譜揭示了在摻雜了Eu的 CeO

2

奈米片的結構中存在氧空位。與CeO

2

奈米片相比,摻雜了Eu的CeO

2

奈米片在600 cm

-1

處出現了一個峰值,這表明由於Ce 3p和Eu 3p的存在,產生了氧空位。此外,也有研究表明透過摻入IO

3

,設計了有缺陷的氧碘化鉍。透過拉曼光譜顯示在98cm

-1

處出現了一個新的峰值,它與Bi振動模式有關,這表明由於氧空位的存在,Bi的價態發生了變化。

材料中缺陷氧空位的常用表徵方法(二)

圖2。 CeO

2

和有缺陷的CeO

2

奈米片的拉曼光譜。

二、拉曼光譜分析

STEM已被用於表徵奈米材料的結構,它直接對原子結構進行成像。透過STEM可以觀察到晶體結構中的原子序數和每個原子的排列方式,使其在科學研究領域的廣泛應用上發揮了重要作用,如表面科學、材料科學、生命科學。然而,這種技術只能觀察材料表面的區域性區域。對於研究材料的整體缺陷來說,它是非常有限的,並且本身對樣品要求較高。

2000年,研究人員透過掃描隧道顯微鏡發現,表面氧空位可以作為反應位點,在這裡可以吸收一氧化碳並轉化為二氧化碳。後來,Samuel S。 Mao等人用STEM研究了RuO

2

的原子尺度結構,發現了材料表面的缺陷(圖7)。

材料中缺陷氧空位的常用表徵方法(二)

圖3。 被CO覆蓋的RuO

2

(110)表面的STM影象

三、掃描透射電子顯微鏡(STEM)

密度函數理論(DFT)是研究材料電子結構的計算方法。它是透過量子力學模型來研究原子、分子和電子密度。因此,DFT是用於物理學、計算化學和材料的通用方法。Zhao等人利用DFT計算揭示了Vo-MnO

2

的結構模型,與非缺陷MnO

2

相比,Vo-MnO

2

的總態密度和部分態密度都接近費米水平,表明材料中存在氧空位。計算結果與實驗結果一致,說明DFT可以用來輔助識別氧空位的存在。儘管DFT計算可以提出材料的電子結構,但它只能作為一種輔助手段。並且,結合實驗和計算結果可以提供更有效的資料和證據。但是,使用DFT來描述以下情況仍有困難:分子間的相互作用、過渡狀態、激發態等。過渡狀態,電荷轉移的激發,以及具有鐵磁性的材料。

四、密度函數理論(DFT)計算

由於O

V

的特殊性質,許多其他方法也可以用來進一步確定O

V

的存在,如熱重分析(TG)。這種方法提供了關於物理現象的資訊,包括吸收和分解。氧空位可以被氧氣重新填充,特別是在高溫下,這表明樣品的質量會發生變化。這種細微的質量變化可以在TG曲線中顯示出來。例如,大塊的Bi

2

MoO

6

樣品表現出急劇的重量損失,而超薄的Bi

2

MoO

6

奈米片在氧氣環境下隨著溫度的升高而緩慢地失去重量。這是由於超薄Bi

2

MoO

6

奈米片中的氧空位與氧氣反應,緩解了其下降的程度。此外,溫度程式還原(TPR)也被用來描述固體材料的表面特性。與無缺陷的材料相比,有缺陷的材料明顯增強了對錶面晶格氧物種的吸附。

參考文獻:[1] Ye K , Li K , Lu Y , et al。 An overview of advanced methods for the characterization of oxygen vacancies in materials[J]。 TrAC Trends in Analytical Chemistry, 2019, 116。